馬赫-曾德爾干涉儀示意圖
如圖,,馬赫-曾德爾干涉儀的圖像效果是,,檢測盒(test cell)中的火焰物體,,在右方顯示為白色火焰(相長干涉,,Constructive Interference),上方顯示為黑色火焰(相消干涉,,Destructive Interference),。核心裝置是左下和右上兩個“半鍍鏡”,鍍膜的厚度很小,,正好讓45度角入射的一半光線透射過去,,一半反射走。光源經(jīng)過透鏡形成準直光束,,被左下的半鍍鏡分成兩道,,往上走的叫“樣品光束”,平走的叫“參考光束”,,半鍍鏡等于起到了“分光器”(beamsplitter,,BS)的作用。參考光束的光路上有一個補償盒(compensating cell),,是和檢驗盒(test cell)一樣的玻璃盒,,消除兩條光路除樣品外的額外影響。精心調(diào)整,,讓兩條光路距離一樣,。兩個光束分別被左上和右下的鍍銀鏡全反射,又在上方的半鍍鏡遇上,,一半樣品光束透射過它,,和被它反射的一半?yún)⒖脊馐黄鸬竭_右邊探測器(屏幕),發(fā)生相長干涉,;一半樣品光束被它反射,,和透射過它的一半?yún)⒖脊馐黄鸬竭_上面的探測器,發(fā)生相消干涉,。
你可能想問,,既然兩條光路距離相同,為什么不是兩邊都是相長干涉,,而是一邊相長,,一邊相消?關(guān)鍵原理是,,反射有可能改變相位,,也可能不變。最終兩束光相位相反就是相消干涉,,相位相同就是相長干涉,。仔細觀察,左下的半鍍鏡是鍍膜(細黑條)在上,、玻璃(粗灰條)在下,;右上的半鍍鏡是玻璃在上、鍍膜在下。
反射相位改變與否的規(guī)律是由菲涅爾方程決定的:在低折射率介質(zhì)里傳的波動,,進入高折射率的介質(zhì),,波動相位會變。也就是從低到高反射,,相位會變,,但從高到低反射,相位不變,。樣品光束在左下半鍍鏡反射走,,是從空氣到鍍膜,空氣折射率低于鍍膜,,會改變一次相位(參考光束被右上半鍍鏡反射類似),。而樣品光束在右上半鍍鏡反射走,是從玻璃到鍍膜,,玻璃折射率高于鍍膜,,不改變相位。
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